CEM 华盛昌 MCT200 工程检测

本仪器是便携式涂（镀）层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂层、镀层厚度的测量，也可进行薄膜厚度测量。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。

采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

测量范围：(0～1250) μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

分 辨 率：0.1μm (F1、N1测头)

示值精度：±(3%H+1) μm; H为被测涂层厚度

显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

存储容量：可存储20组（每组最多50个测量值）测量数据

单 位 制：公制（μm）、英制（mil），可自由转换

工作电压：3V（2节5号碱性电池）

持续工作时间：大于200小时（不开背光时）

通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯

外形尺寸：125mm×67mm×31 mm

有十种测头类型可供选择，测头接触部件镀硬铬或为红宝石，经久耐用；

通过选择相应的测头，既可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；